令和４年７月１日から国際先端エネルギー科学研究教育センター共同利用設備の利用に関する要項が定められました。これに伴いまして、センター共同利用設備の利用を希望する方は以下の手順にて手続きください。
１．京都大学大学院エネルギー科学研究科国際先端エネルギー科学研究教育センター共同利用設備
利用申込書（様式1）を利用を開始しようとする日の６ヶ月前から１０日前までに、センター
事務担当（エネルギー科学研究科総務掛）energysoumu-centerjimu＊mail2.adm.kyoto-u.ac.jp
に提出（＊を＠に変更すること）
２．センター事務担当から利用の可否を回答
３．実際の利用にあたっては、下記機器責任者に直接連絡をすること
４．利用期間満了後に継続して利用を希望する場合は、利用期間満了の１０日前までに申込書を
センター事務担当に提出すること
５．（※）のついている装置はエックス線取扱者の登録が必要です。
| 装置番号 | 装置名・型番 | 機器責任者 |
| B001-01 | Matrix assisted laser desorption/ionization time of flight mass spectrometry (MALDI-TOF-MS)
AXIMA Performance, SHIMADZU | 河本晴雄教授 |
| B002-01 | X-ray diffractometer (XRD) （※） X’Part PRO, PANalytical | 三宅正男教授 |
| B002-02 | X-ray diffractometer (XRD) （※） X’Part PRO, PANalytical | 土井俊哉教授 |
| B002-04 | Transmission electron microscope (TEM)
JEM-2010, JEOL | 奥村英之准教授 |
| B002-05 | X-ray absorption fine structure (XAFS) （※） R-EXAFS 2000-T/F, Rigaku | 高井茂臣准教授 |
| B002-06 | X-ray photoelectron spectrometer (XPS)
JPS-9030, JEOL | 三宅正男教授 |
| B002-07 | Chemisorption analyzer
AutoChem Ⅱ 2920, SHIMADZU | 小川敬也准教授 |
| B002-08 | Scanning prove microscope (SPM)
SPM-8100FM, SHIMADZU | 河本晴雄教授 |
| B002-09 | Zeta-potential & particle size analyzer
ELSZ2000ZS, Otsuka Electronics Co., Ltd. | 蜂谷寛准教授 |
| B002-10 | Circular dichroism spectrometer (CD)
J-1500, JASCO Corporation | 岡崎豊助教 |
| B003-01 | Laser microscope
VK-9700, KEYENCE |
安部正高准教授 |
| B003-02 | Scanning electron microscopy (SEM)
VE-9800, KEYENCE |
安部正高准教授 |
| B003-03 | Precision universal / Tensile tester
AG-100kNX, SHIMADZU |
安部正高准教授 |
| B003-04 | Hardness tester
DUH-211S, SHIMADZU |
安部正高准教授 |
| B003-05 | Hardness tester
HMV-2TADW, SHIMADZU |
安部正高准教授 |
| B003-06 | Field emission scanning electron microscope (FE-SEM) SU6600, Hitachi High-Tech with EDX (XFlash 5010, Bruker) and EBSD (C-Nano+, Oxford Instruments) | 薮塚 武史 講師 |
| AESL-01 | 模擬電力系実験設備
Lab-scale simulated power system equipment | 川山巌准教授 |
| AESL-02 | 3T-MRIシステム（直流電源設備を含む）
3T-MRI System （with DC power supply） | 川山巌准教授 |
